美国QVI 桌上型半自动CD测量系统——VIEW MicroLine 300

MicroLine-300是一款桌上型半自动CD测量系统。
主要技术参数：
    测量范围(XYZ)：标准：200×200×25mm；可选：300x300x25
    视场内测量精度：10nm(100X 镜头)；Z轴聚焦范围：25 mm
    视场内测量范围：0.5um400um；
    视场内测量重复性(100x 物镜)：  晶圆上0.010um(1)； 掩模板上0.005um(1)； 承重：2kg
    标配镜头10x，可选镜头：5X, 20X, 50X, 100X 
MicroLineTM 300是一款测量晶圆、光罩、MEMS和其他微加工设备等关某键尺寸的自动化测量系统。该系统配备了某高质某量光学显微镜和精密移动平台，可对200mm的晶圆上0.5m到400m的特征尺寸进行全自某动的精密视场测量。
n  200 x200mm精密X-Y平台
n  基于视觉的自动J焦获得好的影像质量
n  自动照明可编程光强
n  用于测量透明层、不规则边缘的线、厚膜等的强劲性能
n  可编程的序列，包括自动J焦和关键尺寸测量
n  电动的6目物镜转换器，软件控制
n  可选的透射照明
技术规格：
- 测量行程: 200 x 200 x25mm(XYZ)
- 平台运行: 交叉滚轴手动同轴定位和释放
- 视场内的测量精度: 0.010m (用100x物镜)
- 特征尺寸: 视场内0.5m - 400m
- FOV测量重复性: 0.010m on wafers (用100x物镜)
0.005m on photomasks (用100x物镜)
- 照明: 石英卤素灯, 反射光
       自动照明
- 低噪音CCD VGA格式摄像头
- 图像处理60帧每秒
MicroLine 300的典型应用包括：
l  晶圆
l  光罩
l  MEMS
l  微型组件
测量类型:
 关键尺寸:
线宽  Linewidth
节距  Pitch
间隙  Spacing
 Overlay:
Multi-layer registration
Box in box
Circle
Edge roughness
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