美国RAM Starlite200-300 半自动影像测量仪

StarLite 200-300 系统，合理您要求和预算的测量系统 
StarLite 型号从 200到300 都属于精密仪器设计，容易聚焦和工件定位.
StarLite是检测和测量应用上理某想的选择，例如塑料, 医某疗设备和产品, 汽车行业, 航空,电子行业等多.
StarLite 特征:
高分辨率数码彩色相机 
精密变焦光学 
机械轴承 XYZ 平台 
放大倍数 34x 到 176x 
侧悬挂的  Z 轴可调节 
粗/细 XY 调整 
坚硬花岗岩结构 
花岗岩,大行程系统
StarLite 系统以花岗岩为底座，拥有不同方位的平台行程, 手动 X-Y定位控制, 侧悬挂Z轴定位 ，可进行粗细调节控制 , 6:1 自动化变焦光学以及高分辨率数码彩色相机.
半自动测量结构
StarLite系统包含可编程性能，可以得到很多一某致的，可重复的测量结果 .Measure-X测量软件可以为广某泛的普遍尺寸测量提供测量结果. 几种照明选项,包括强大的 VectorLight也可以适用. 可以控制的照明可以保Z得到高质量影像.
规格参数
×测量行程：（XY）
            StarLite 200/ 200x150mm
            StarLite 250/ 300x150mm
            StarLite 300/ 300x300mm
×XY精度(StarLite200,250): E2=(3.5+6L/1000)um
          (StarLite 300): E2=(4.5+6L/1000)um
×光栅尺分辨率:1.0微米
×Z 行程： 150mm
×Z 精度: E1=(7.0+8L/1000)um
×光栅尺分辨率:1.0微米
光学性能
 工作距离(带 VectorLight)：70mm
  放大倍率:  20 显示器,35X-175X
  视场:  1.8-8.9mm
物理特性
 载重 :23kg
相关环境
温度,安全操作: 15C-30C 
达标温度: 20C1C